兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀（測鍺）型號：LZ-KDY-2

發(fā)布時間： 2013-04-21　　點擊次數(shù)： 1178次

LZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠（如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等）的電阻率，測樣長度與截面zui大尺寸之比應不小于3：1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產(chǎn)生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，測量結果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。

整套儀器有如下特點

1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更方便，測量更。

數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ

基本誤差±（0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度）

2、可測電阻率范圍：0.005—50000Ω·cm。

3、測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。

電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。

5、可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現(xiàn)自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。

6、可加配電腦，實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容

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兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀 （測鍺） 型號：LZ-KDY-2

兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀（測鍺）型號：LZ-KDY-2